人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray  Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質上而產生的次級X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素（F）到92號元素（U）。目前其主要應用包括土壤重金屬分析，合金分析以及環境分析。 

    加拿大EDXpert™ 手持XRF土壤重金屬測量儀是一款設計直觀和用戶友好型系統。EDXpert™ XRFXRF土壤重金屬測量儀與競爭對手區分開的優勢在于, 該分析儀單元已經校正供測量用, 直接從盒子中取出即可，無需頻繁校準。該設計消除了不校準（人為錯誤）對測量結果造成影響。合理市場價格使得我們的EDXpert™手持XRF土壤重金屬測量儀在市場上非常有吸引力，是優選設備。常規使用條件下，便攜式EDXpert™ XRF土壤重金屬測量儀可運行8小時，之后需要充電。EDXpert™ XRF土壤重金屬測量儀運行采用高電壓40kV(可設置達50kV), 檢測元素范圍Cl-U。輕量元素備選檢測范圍是Mg-U。EDXpert™XRF土壤重金屬測量儀由Hewlett- Packard iPAQ PDA 控制，為系統提供了高靈活性和分析性。PDA有一個高分辨率的4英寸觸摸屏,可隨PDA技術進步而更新。合理價格，備選實驗室臺架可使 EDXpert™ XRF土壤重金屬測量儀用作實驗室XRF分析儀, 當與我們臺式EDXpert™ 軟件儀器使用時,立刻有效變為一款臺式光譜儀。

    EDXpert™ 手持XRF土壤重金屬測量儀，軟件功能簡單，易于操作，實時PDA觸摸屏讀數。用戶回到實驗室后，結果可輕松傳輸到電腦以便長久儲存，分析和生成報告使用。手持型XRF分析儀包括軟件包、備用電池、耐用攜帶箱以及質保等。這不僅僅是低成本備選; 該設備為高精度、高靈活性系統，為諸多的便攜測量應用提供解決方案。該系統的主要應用領域是有害物分析，設備性能超出了RoHS和CPSIA法規的要求（檢出限達到 (ppm)水準）。另外滿足法規的是為"現場便攜式XRF分析儀"，土壤檢測中，可提供土壤和沉積物現場RCRA金屬以及非RCRA金屬。

    EDXpert™ XRF是一款具備實驗室分析精度的現場便攜式X射線熒光光譜儀，能夠快速從土壤和沉積物中同時檢測出多達幾十種元素的含量，其中包括所有的8種美國資源保護和回收法（RCRA）規定的金屬元素(As, Se, Ba, Cd, Cr, Ag, Hg, Pb)。

    適合環境介質要求：土壤及相關類似松散(顆粒狀)樣品檢測模式;該系列產品被各國的環保署（EPA）、加拿大、美國各州及各大城市的環保和健康部門、環境問題咨詢公司以及的大學和研究機構所廣泛采用。

XRF土壤重金屬測量儀原理

    X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。

    X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出的電子會導致該電子殼層出現相應當電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。

XRF土壤重金屬測量儀波長

    元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下：

    λ=K(Z−s)−2

    式中K和S是常數。

XRF土壤重金屬測量儀能量

    而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：

    E=hν=h C/λ

    式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。

    因此，只要測出熒光X射線的波長或者能量，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外，熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。

XRF土壤重金屬測量儀分類

    不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)

XRF土壤重金屬測量儀特點

    分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

    X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

    非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

    X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

    分析精密度高。

    制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

    難于作分析，故定量分析需要標樣。

    對輕元素的靈敏度要低一些。

    容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

XRF土壤重金屬測量儀分析

    X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已*成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。

    每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。

    根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。

    EDXpert™可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬分率含量，在開發或整修學校、社區中心、住宅、游樂場及運動場以前，這款分析儀是有助于保障環境安全的重要工具。如果要在以前是垃圾填埋場、工業場址、果園、飼養場、閑置的污染土地以及其它會發現高含量有毒金屬的地區開發房地產，DELTA分析儀無疑是一件*的工具。此外，在對建筑物及舊房屋進行翻修、重建、恢復及涂漆的過程中，EDXpert™可以迅速探測出土壤和塵埃、建筑物表面、含鉛顏料中的鉛（Pb）元素，從而有助于減少在分析工程是否符合環境管理規定的過程中所耗用的資金和時間。